高级检索
赵良仲. 单层表面分析方法──低能离子散射和静态二次离子质谱[J]. 物理, 1980, 9(3).
引用本文: 赵良仲. 单层表面分析方法──低能离子散射和静态二次离子质谱[J]. 物理, 1980, 9(3).

单层表面分析方法──低能离子散射和静态二次离子质谱

  • 摘要: 固体材料的表面特性,例如电子或离子的表面发射或表面吸收,分子的表面吸附,以及表面化学反应等。取决于材料的表面层。特别是最外原子层的组成和结构.自六十年代末期以来,研究表面组成和结构的方法已获得迅速发展[1].这些方法的信息深度范围一般为1—10个原子层,其中低能离子散射和静态二次离子质谱可用于单层表面分析.这两种方法都是用离子束来探测表面的.和用电子束入射的情形类似,用离子束入射时也能引起四?...

     

/

返回文章
返回