摘要: 晶体材料在国民经济和国防上的重要作用日益明显，因而对晶体质量提出了越来越高的要求．为了判断晶体质量的好坏，人们发展了各种各样的质量检查方法，其中Ｘ射线形貌方法是一种非破坏的检查方法，它得到越来越广泛的应用［１，２］．然而用Ｘ射线形貌方法检查晶体远没有象用光学显微镜那样方便，因为它要求精确地调节晶体的取向以得到布喇格反射．人们感到更不方便的是，用普通Ｘ射线形貌方法检查晶体时的曝光时间太?...