高级检索

应用X射线定向仪测定晶面指数和取向的简便法

  • 摘要: 本文介绍在X射线定向仪上用cuK辐射的两种特征谱线,对同一晶面衍射所获得的θκα1-θκβ角差δ进行测定,并与已计算好的δ-d表进行对照,从而达到测定晶面指数和取向的目的.一、原理和方法X射线定向仪通常用来精确测定晶片表面与已知晶面的取向偏离.对于未知晶面,采用常规方法测定θhkl值是不可能的.然而利用X射线Kα1和Kβ对同一晶面的衍射角差δ来反推相应的θhkl值是方便的.因为不管实际晶片表?...

     

/

返回文章
返回