摘要: 对于半导体材料的电阻率和霍耳系数的测量，可以得到标志材料性能的几个重要参数，如电阻率、电子或空穴载流子浓度、霍耳迁移率、补偿度、禁带宽度以及杂质能级位置等．国内过去一直采用电位差计、检流计或数字电压表来测量电压、电流信号，然后再用计算尺或计算器算出它的结果［１］．此法太费事，不方便．本工作采用一种新的系统来测量电阻率、霍耳系数等，能大大提高劳动效率、计算快而准确，减少了出错率．它的特点可以概?...