摘要: Ｘ射线定向仪，以往通常仅用于测定被测晶面与已知结晶面之间的偏差，因此它仅应用于晶体方位的修正测试．然而，要想利用它直接测定某未知晶面的真正θｈｋｌ，从而计算出ｄ值并确定晶面指数，是很困难的．这是因为实测晶面往在与某结晶面有偏离，使未知晶面的θｈｋｌ无法确定．这样大大限制了它的应用．为了解决上述问题，作者做过一些新的测试方法的摸索．本文仅对利用定向仪测定（ｈｋｌ）面族中多级衍射等偏角的原理来确?...