摘要: 长期以来，低频扭摆被广泛地应用于内耗研究［１］．在这种装置中，测量振动系统在自由衰减时的振幅和频率．这种方法有一定的局限性：在内耗很大（Ｑ－１＞０．１）时．误差很大；在扭摆的工作频率范围内，某些弛豫过程的温度可能很高，而在这样的温度下，试样的组态将会发生变化．早在四十年代，就已经研制出强迫振动扭摆2，用于极高内耗的测量．由于检测微小相角差的困难，直到七十年代中期强迫振动扭摆才得到进一步的发展....