摘要: 利用双元素Ｘ射线点光源发散束方法（赝Ｋｏｓｓｅｌ法），能从非完整的赝Ｋｏｓｓｅｌ线获取晶面间距的信息；采用计算机模拟，能全面完成赝Ｋｏｓｓｅｌ线的指标化．应用这两项简便技术，便能从一张背射赝Ｋｏｓｓｅｌ衍射花样照片上得到足够多的ｄ值，从而可以实现单晶点阵常数的精密测定．