摘要: 本文简要地介绍了一种测定晶体结构的新方法．此法立足于一幅高分辨电子显微像及相应的电子衍射花样．它实际上是一种借助于衍射分析技术的图像处理方法，共分二步：像的解卷和提高像的分辨率．第一步是把一幅在任意离焦条件下拍摄的像转换成结构像；第二步是用相位外推技术提高像的分辨率．最终结构像的分辨率将超出电子显微镜分辨本领的限制．