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金属和半导体表面的STM研究

  • 摘要: 在过去的半个多世纪中,已有许多表面分析技术问世.它们在金属和半导体表面结构的研究中起着重要的作用,80年代发展起来的扫描隧道显微镜(STM)是又一新型、先进的表面分析技术,它能在多种实验环境(真空、大气、溶液、低温等)下实时观察导体和半导体表面的实空间几何结构和电子结构,弥补了其他表面分析技术存在的某些不足,受到了表面科学界的极大重视.有关STM的基本原理,本刊已有多篇综述文章[1-4],本文主要介绍STM在金属和半导体表面结构研究方面的一些实例。

     

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