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严玉顺, 何向明, 张泉荣. 防伪技术的新突破——核径迹防伪技术[J]. 物理, 1999, 28(5).
引用本文:
严玉顺, 何向明, 张泉荣. 防伪技术的新突破——核径迹防伪技术[J]. 物理, 1999, 28(5).
防伪技术的新突破——核径迹防伪技术
严玉顺
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何向明
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张泉荣
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用核粒子照射塑料薄膜形成径迹,再经化学试剂蚀刻和成像技术,得到由微米级微孔组成的图案.这种图案具有物质透过特性.用这种方法生产的核径迹防伪标志,具备核尖端技术不易扩散,制作设备不易得到,产品用其他方法难以伪造,防伪识别简单、快速、可靠等特点.此种标志已经通过放射性安全检测,可以用于各种商品(包括食品)的包装
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