摘要: 综述了在半导体和金刚石中的正电子迁移率的６种不同测量方法（角关联方法、多普勒方法、寿命谱方法、注入剖面法、扩散常数法和慢正电子法），给出了自１９５７年以来国内外的所有测量数据，并对数据进行了综合分析